1.4.4光電法

    （1）儀器說(shuō)明

    EIB（Electronic Inspection Board,電子檢測(cè)板）是由美國(guó)LASWON-HEMPHILL公司推出的用于評(píng)定紗線(xiàn)外觀質(zhì)量的檢測(cè)儀器，代表著計(jì)算機(jī)技術(shù)與光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)在紡織領(lǐng)域應(yīng)用的最新成果。該儀器主要由線(xiàn)掃描CCD鏡頭、照明系統(tǒng)、CTT恒定張力紗供送系統(tǒng)和計(jì)算機(jī)系統(tǒng)構(gòu)成。它可以連續(xù)、高速、精密地掃描紗線(xiàn)的徑向尺寸，當(dāng)紗線(xiàn)的運(yùn)行速度為100m/min，其軸向掃描精度為0.5mm，徑向掃描精度為0.00325mm，是目前為止分辨率最高的紗線(xiàn)外觀質(zhì)量測(cè)試儀器。

    EIB外觀檢測(cè)的參數(shù)設(shè)定包括表觀直徑變異率（可以分為－50%、－25%、－10%、10%、25%、50%等6級(jí)）及表觀直徑變異長(zhǎng)度（可以分為1～2mm、2～3mm、3～4mm、4～5mm、5～6mm、6～7mm、7～8mm、＞8mm等8級(jí)），綜合算來(lái)，其設(shè)定參數(shù)總量達(dá)48組。

    （2）測(cè)試原理

    讓紗線(xiàn)以一定的速度從兩路正產(chǎn)交方向上的光電檢測(cè)系統(tǒng)內(nèi)通過(guò)，CCD相機(jī)對(duì)紗線(xiàn)外形進(jìn)行拍照，將紗線(xiàn)直徑信號(hào)轉(zhuǎn)化為電信號(hào)，對(duì)電信號(hào)進(jìn)行過(guò)濾分析并與設(shè)定的參數(shù)進(jìn)行比較，從而得到網(wǎng)絡(luò)結(jié)點(diǎn)的個(gè)數(shù)。

    （3）測(cè)試步驟

    設(shè)定EIB在Appearance（外觀）功能下測(cè)定紗線(xiàn)的投影直徑Average Diameter（平均直徑），然后按以下步驟操作：

    a)按照儀器總開(kāi)關(guān)、電腦主機(jī)、打印機(jī)、顯示器的順序打開(kāi)各自電源；

    b)打開(kāi)網(wǎng)絡(luò)〈ACE6–23–09〉窗口，接上樣品，進(jìn)行攝像校正，校正完畢后關(guān)閉，根據(jù)名義纖度加張力，一般按照20D～150D加10g, 150D～500D加15g, 500D以上加25g，若張力較小，可調(diào)節(jié)最前面過(guò)絲加的預(yù)加張力；

    3)打開(kāi)網(wǎng)絡(luò)〈ACE6–23–09〉窗口校驗(yàn)后出現(xiàn)對(duì)話(huà)框‘Camera Wizard’，在‘Entang Lements/Meter’輸入網(wǎng)絡(luò)節(jié)數(shù)〉，然后在‘Yarn Denier Ranqe’根據(jù)規(guī)格選擇張力參數(shù)，設(shè)置完畢后點(diǎn)擊‘Run’〈運(yùn)行〉運(yùn)行后點(diǎn)擊‘Show Profile’出現(xiàn)‘Profile Ａnalysis’窗口，點(diǎn)擊‘Pixels’選擇所需參數(shù)，點(diǎn)擊‘OK’看儀器顯示的網(wǎng)絡(luò)節(jié)數(shù)跟對(duì)話(huà)框里的網(wǎng)絡(luò)節(jié)數(shù)是否一樣，完畢后點(diǎn)擊‘Exit’返回，點(diǎn)擊‘Recal’之后再點(diǎn)擊‘OK’；

     4)在ACCU–COUNT ENTANGLEMENT點(diǎn)擊文件名‘Test’在最下方‘Waste Length’輸入測(cè)試長(zhǎng)度，在‘Use Stop Motion attend of　each test打〈√〉’設(shè)置完畢后點(diǎn)擊‘START〈F1〉’再點(diǎn)擊‘F2’自動(dòng)運(yùn)行測(cè)試。

2 結(jié)果與討論

    采用3種測(cè)試方法對(duì)不同樣品進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)度測(cè)試，其測(cè)試結(jié)果見(jiàn)表2。

表2  試樣測(cè)試結(jié)果